icp光譜分析儀如何消除因光譜及樣品物理性質帶來的干擾
更新時間：2021-12-16 點擊次數：1360
icp光譜分析儀
主要用于微量元素的分析，可分析的元素為大多數的金屬和磷、硅、硫等少量的非金屬物質，數量高達72種之多，是當前光譜分析中迅速靈敏的一種儀器。采用等離子光學接口完成消除水平觀測時尾焰的影響、全譜CCD技術和多視角等離子體定位等新技術，有高靈敏度、高精度以及波長范圍寬等特性。 icp光譜分析儀分析過程中有時會受到一些不利因素干擾，導致分析數值不準確，就好比說光譜或樣品物理性質干擾，因此就需要用不同的方法去消除此類干擾，這對于新手來說還是存在一定難度，但并不是不能解決，只要方法找對了，其實也不難！
先來說說光譜干擾：是常見的干擾，跟試樣類型有關，在軟件中可以看出來有沒有光譜干擾。
消除方法參考：雙邊校正背景方式，通過調節兩個背景點的位置和像素點來消除干擾；若干擾很嚴重可用MSF模型。IEC用的很少。
那么對于物理干擾怎么理解呢：因為樣品首先進行霧化，粘度不一樣，霧化效率不一樣，形成氣溶膠效率不一樣，到達中心管的速度不一樣，從而引起強度值的變化。1%的硝酸和5%的硫酸通過相同的條件進行霧化，出來的液滴大小不一樣，這是由于樣品物理性質的干擾對測定造成的影響。
消除方法參考：首先保證載氣流量的穩定，采用復配方式測定，配標液可用到異辛烷；基體大致相同；基體校正系數法，用的較少；標準加入法；內標法，加內標元素進去，讓它時時監控霧化效率和傳出效率，如果有改變，可按照系數計算。
