icp光谱分析仪如何消除因光谱及样品物理性质带来的干扰
更新时间:2021-12-16 点击次数:1251
icp光谱分析仪
主要用于微量元素的分析,可分析的元素为大多数的金属和磷、硅、硫等少量的非金属物质,数量高达72种之多,是当前光谱分析中迅速灵敏的一种仪器。采用等离子光学接口完成消除水平观测时尾焰的影响、全谱CCD技术和多视角等离子体定位等新技术,有高灵敏度、高精度以及波长范围宽等特性。 icp光谱分析仪分析过程中有时会受到一些不利因素干扰,导致分析数值不准确,就好比说光谱或样品物理性质干扰,因此就需要用不同的方法去消除此类干扰,这对于新手来说还是存在一定难度,但并不是不能解决,只要方法找对了,其实也不难!
先来说说光谱干扰:是常见的干扰,跟试样类型有关,在软件中可以看出来有没有光谱干扰。
消除方法参考:双边校正背景方式,通过调节两个背景点的位置和像素点来消除干扰;若干扰很严重可用MSF模型。IEC用的很少。
那么对于物理干扰怎么理解呢:因为样品首先进行雾化,粘度不一样,雾化效率不一样,形成气溶胶效率不一样,到达中心管的速度不一样,从而引起强度值的变化。1%的硝酸和5%的硫酸通过相同的条件进行雾化,出来的液滴大小不一样,这是由于样品物理性质的干扰对测定造成的影响。
消除方法参考:首先保证载气流量的稳定,采用复配方式测定,配标液可用到异辛烷;基体大致相同;基体校正系数法,用的较少;标准加入法;内标法,加内标元素进去,让它时时监控雾化效率和传出效率,如果有改变,可按照系数计算。